FISCHERSCOPE® X-RAY XDL材料分析測厚儀的詳細(xì)資料：
| 品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件 |
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL材料分析測厚儀
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL材料分析測厚儀
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和XDLM系列與XUL和XULM系列密切相關(guān)：兩者都使用相同的接收器，準(zhǔn)直器和濾片組合。配備了標(biāo)準(zhǔn)X射線管和固定準(zhǔn)直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。
兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點(diǎn)，由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計(jì)數(shù)率，確保良好的重復(fù)精度。
XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細(xì)小的部件，對低輻射組分有較好的激勵(lì)作用。此外，XDLM配備了可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造激勵(lì)條件。
比較XUL和XULM儀器而言，XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從上到下。它們被設(shè)計(jì)為用戶友好的臺式機(jī)，使用模塊化結(jié)構(gòu)，也就是說它們可以配備簡單支板，各種XY工作臺和Z軸以適應(yīng)不同的需求。
配備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動(dòng)化系列測試。它可以很方便地掃描表面，這樣就可以檢查其均勻性。為了簡單快速定位樣品，當(dāng)測量門開啟時(shí)，XY工作臺自動(dòng)移動(dòng)到加載位置，同時(shí)激光點(diǎn)指示測量點(diǎn)位置。對于大而平整的樣品，例如線路板，殼體在側(cè)面有開口（C形槽）。由于測量室空間很大，樣品放置方便，儀器不僅可以測量平面平整的物體，也可以測量形狀復(fù)雜的大樣品（樣品高度可達(dá)140 mm）。Z軸可電動(dòng)調(diào)整的儀器，測量距離還可以在0 – 80 mm的范圍內(nèi)自由選擇，這樣就可以測量腔體內(nèi)部或表面不平整的物體（DCM方法）。
典型應(yīng)用領(lǐng)域
大批量電鍍件測量
防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻
電鍍行業(yè)槽液分析
線路板行業(yè)如薄金，鉑和鎳鍍層的策略
測量接插件和觸點(diǎn)的鍍層
電子和半導(dǎo)體行業(yè)的功能性鍍層測量
黃金，珠寶和手表行業(yè)
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