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菲希爾X射線測厚儀XDL210 鍍銀層測厚儀信息
點擊次數(shù)：119 更新時間：2025-04-29 打印本頁面 返回
菲希爾XDL210 X射線測厚儀核心產(chǎn)品特點
FISCHERSCOPE XDL 憑借性能，成為工業(yè)檢測領(lǐng)域的理想之選。其具備強大的 DCM 功能，支持 0-80mm 遠距離測量，即使在復(fù)雜環(huán)境下也能精準獲取數(shù)據(jù)；固定光圈與濾光鏡設(shè)計，確保測量結(jié)果穩(wěn)定可靠。專為微小尺寸測量優(yōu)化，可實現(xiàn) 1mm 以上測量點的精確檢測，底部 C 型開槽的大容量測量艙，能輕松容納各類待測工件。作為可編程臺式設(shè)備，F(xiàn)ISCHERSCOPE XDL 可自動化完成多批次測量任務(wù)，搭配標(biāo)準 X 射線管與比例計數(shù)器，顯著提升測量效率與準確性。
多元應(yīng)用領(lǐng)域
在大規(guī)模電鍍生產(chǎn)中，F(xiàn)ISCHERSCOPE XDL 可快速檢測電鍍零件的鍍層厚度，保障產(chǎn)品質(zhì)量一致性；于防腐與裝飾鍍層領(lǐng)域，精準測定鎳 / 銅基底上鉻層厚度，為表面處理工藝提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。在電鍍液分析環(huán)節(jié)，儀器能高效評估成分比例，助力優(yōu)化電鍍流程。此外，在黃金、珠寶及鐘表行業(yè)，F(xiàn)ISCHERSCOPE XDL 可準確檢測貴金屬鍍層，為產(chǎn)品真?zhèn)舞b定與品質(zhì)把控提供科學(xué)依據(jù) 。
