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菲希爾黃金鍍層測厚儀信息
點(diǎn)擊次數(shù)：213 更新時間：2025-04-27 打印本頁面 返回
菲希爾X射線GOLDSCOPE SD特點(diǎn)
緊湊耐用設(shè)計
采用臺式設(shè)計，結(jié)構(gòu)緊湊且堅固，適合長期使用，符合EN 61010、DIN ISO 3497和ASTM B 568等國際標(biāo)準(zhǔn)。X射線熒光技術(shù)優(yōu)化
硬件和軟件專為黃金及貴金屬分析優(yōu)化，采用X射線熒光（XRF）技術(shù)，無需樣品制備，實(shí)現(xiàn)無損、快速（典型測試時間5秒）且高精度分析。型號與探測器差異
SD 510/SD 515：配備硅PIN探測器，適合快速檢測，適用于當(dāng)鋪、黃金買賣和小型實(shí)驗(yàn)室。
SD 520/SD 550：配備硅漂移探測器（SDD），分辨率更高（≤180eV），尤其擅長測量相近元素（如鉑族金屬），SD 550還支持多濾波器和準(zhǔn)直器切換，適應(yīng)復(fù)雜需求。
便捷操作設(shè)計
測量艙寬敞（最大樣品高度90mm），支持自下而上的測量方向，透明窗口便于觀察，集成視頻顯微鏡輔助精準(zhǔn)定位測量點(diǎn)。
操作簡單：開艙放置樣品后，一鍵啟動即可完成分析。
軟件支持
預(yù)裝FISCHER WinFTM®軟件，內(nèi)置貴金屬分析程序，支持?jǐn)?shù)據(jù)管理、報告生成及自定義測試任務(wù)，優(yōu)化工作流程
