技術(shù)文章首頁 > 技術(shù)文章 > 全部文章
菲希爾X射線FISCHERSCOPE X-RAY XAN500信息
點(diǎn)擊次數(shù)：322 更新時(shí)間：2025-04-14 打印本頁面 返回
Fischerscope X-RAY XAN500菲希爾X射線測厚儀是一款可移動(dòng)使用并且應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，它特別適用于鍍層厚度的無損測量及材料分析。適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
菲希爾X射線測厚儀，手持式X射線，使用比較簡單方便，適合現(xiàn)場做大工件的無損檢測，測試精度比較高，測試效率快，不在需要準(zhǔn)備隨爐試樣。
典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
測量大型工件的鍍層，如：機(jī)械零件和外殼
在電鍍過程中進(jìn)行移動(dòng)實(shí)時(shí)測量
對合金材料進(jìn)行移動(dòng)實(shí)時(shí)檢測
FISCHERSCOPE X-RAY XAN500是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及進(jìn)行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY儀器一樣，本款儀器有著出色的精確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。
XAN500采用先進(jìn)的硅漂移探測器能夠達(dá)到非常高的分析精度及探測靈敏度。依靠FISCHER的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。
